Ataşehir, İstanbul, Türkiye        +90 (216) 577 52 97        info@ankaanalitik.com.tr
  • Türkçe
  • English
Anka Analitik » X-RAY SİSTEMLERİ » EXPLORER XRD CİHAZI

EXPLORER XRD CİHAZI

ÇOK AMAÇLI, YÜKSEK ÇÖZÜNÜRLÜKLÜ THETA/THETA X-RAY DİFRAKTOMETRE 

explorer-basic

EXPLORER

Esneklik ve Sınırsız Modülerlik

EXPLORER, yüksek çözünürlüklü difraktometre sistemi, 0.00001°‘lik bir açısal hassasiyete ulaşmasını sağlayan, optik kodlayıcılar tarafından kontrol edilen yüksek verimli, doğrudan tahrikli tork motorları (Direct Drive Torque Motors) içermektedir.

EXPLORER X-Işındifraktometresi’nin hizalamayı gerektirmeyen modüler yapısı sayesinde, toz, ince film, düşük (SAXS)ve geniş(WAXS) açı saçılımı, Stress ve Texture analizleri yapılmaktadır.

20160216_172643

XRD

EXPLORER, analitik ihtiyaçlara geniş bir yelpazede çözümler sunar;

EXPLORER XRD, esnek ve hizalamayı gerektirmeyen modüler yapısına sahiptir. Müşterinin gereksinimlerine göre değiştirilebilir ve güncelleştirebilir. GNR, tüm analitik ihtiyaçları karşılamak için X-ışını kaynakları, optik, numune tutucuları ve dedektörler gibi çok çeşitli aksesuar seçeneklerine sahiptir.

EXPLORER XRD, uygulama sınırı olmaksızın müşterilerin tüm analiz ihtiyaçlarını karşılar;

Temel Özellikler

explorer-tech-data


Uygulamalar

X-Işın Toz Difraktometre (XRPD)

 

Faz analizi ve kimliklendirme, analitik numunelerdeki farklı polikristal malzemelerin çalışmasıdır. Bir faz kristal yapısının benzersiz kombinasyonundan kaynaklanan eşsiz toz difraksiyon deseninden ötürü diğer fazlardan ayrılır. Bu analiz, her çeşit kristal halindeki malzeme için geçerlidir ve sadece tanımlama ile sınırlanabilir veya tam kantitatif analizle genişletilebilir.

Konfigürasyon

İnce Film (GIXRD)

İnce filmlerin veya çok katmanlıların faz analizinde, katmanlardan gelen sinyal yoğunluğunu arttırmak ve alt katman yansımalarını azaltmak için X-ışını girişi düşük eğimli açılarda ölçümler yapılabilir. Ölçüm sırasında, dedektör 2-teta aralığı boyunca taranırken, giriş açısı sabit kalır. Bu yapılandırmada, paralel ışın kolimatörü (LESS) yansıyan ışın üzerine tutturulmuştur.

GIXRD (Grazing Incidence Diffraction) Konfigürasyogixrdn

İnce Film (GIXRD-XRR)

EXPLORER, ince film tabakası kalınlığı, yoğunluğu, yüzey ve arayüz pürüzlülüğünün karakterizasyonunu tek bir ölçümde gerçekleştirebilir. Filmler tek veya çok tabakalı, yalnızca birkaç atom veya 500 nanometre kalınlığındaysa, analiz hızlı, kolay ve tamamen tahribatsızdur. Knife edge kolimatörü, kristal monokromatörlerin tipik olarak yoğunluk azalması olmaksızın birincil ışının optimum kolimasyonunu sağlar.

XRR (Reflectometry) Configuration

Küçük Numune Miktarları XRD (Capillary Technique)

Kapiler tekniği, kapalı ortamda küçük numune miktarlarını veya havaya duyarlı örnekleri incelemek için idealdir. Parabolik ayna ve CeleriX Dedektörü sayesinde EXPLORER difraktometre, çok küçük numune miktarlarında bile, çok kısa sürede yüksek kaliteli kırınım grafikleri üretir. Mikroskop kontrolü altında hizalanan hassas bir goniometre kafası, kılcal ve difraktometre ekseninin deng gelmesini garanti eder.

 Konfigürasyon

SAXS & WAXS

Küçük açılı X-ışını saçılımı (SAXS) tekniği, nano ölçekli malzemelerin yapısal karakterizasyonu için idealdir ve diğerlerinin yanında nanoparçacık ve gözenek boyutu analizi ve özgül yüzey alanı tayini için izin verir.

SAXS, 0.5 ila 50 nm boyut aralığında yapısal ayrıntıları araştırmak için aşağıdaki gibi uygulanır:

Konfigürasyon

saxswaxs

Texture Analizi 

Texture analizi, bir numuneyi oluşturan kristalitlerin oryantasyon dağılımının belirlendiği bir kırınım tekniğidir.

textur

Çok çeşitli metaller ve seramik sınıfı gibi polikristalin katı malzemelerde, kristalitlerin yönelimi genellikle ideal bir toz örneğinde olduğu gibi rastgele dağılmaz. Çoğu durumda, örnek referans çerçevesine göre kristalitlerin tercih edilen bir yönlendirme mevcuttur. Malzeme biliminde bu texture olarak adlandırılır. Dokunun bilgisi, araştırılan maddenin mekanik, fiziksel veya kimyasal davranışının anlaşılmasında önemli bir faktördür. X ışını kırınım analizinde, texture bir kutup figürleri setinden tespit edilir. Bu kutup rakamları, tek bir (hkl) yansımanın yoğunluk dağılımını, eğilip, oryantasyon küresi üzerinde numuneyi döndürerek kaydederek ölçülür. Böylece, tek bir yansımanın ve dolayısıyla tek bir kafes düzlemi için oryantasyon dağılımı belirlenir. Bağımsız kristal yönelimleri için bir dizi kutup şekli ölçüldüğünde, kristalitlerin yönlendirme dağılım fonksiyonu (ODF) hesaplanabilir.

Texture analizi, malzeme bilimi, jeoloji, arkeoloji ve mineraloji gibi geniş uygulama alanlarında uygulanmaktadır.

Konfigürasyon

Stress

X-ışını kırınımı, bir malzemenin kristal yapısını, kristal kafes yönelimini ve kafes düzlemlerinin aralığını ölçmek için yaygın olarak kullanılır. Explorer, belirli bir malzeme için özel olarak seçilmiş bir kafes düzlem yansımalarının aralığını ölçmek için tasarlanmıştır. Explorer, bu ölçümleri ferritik çelik, paslanmaz çelik, alüminyum veya magnezyum alaşımları için optimize etmek için seçilen çeşitli X-ışını tüplerini kullanır. Explorer, tabaka düzleminde uygulanan yük altında iken, kafes aralığını başlangıçtaki aralıktan geçerli aralığa kadar izler. Numunelerin, tabakanın normal yönden yük alma yönüne doğru eğilmesi suretiyle, tabaka yüzeyinin tam stress etkisini elde etmek için ölçülebilir ve kullanılabilir.

stress1

Konfigürasyon

stress2

Transmisyon XRD

Transmisyon X-ışını kırınım deneylerinde, X ışını ışını örnek tarafından yansıtılmaz, bunun yerine kırınım işlemi gerçekleştiği örnek boyunca ilerlenir. Farmasötik veya polimer endüstrisindeki organik bileşikler gibi hafif atomlardan oluşan malzemeler, X-ışınları için “transparan”tır. Bragg-Brentano geometrisinde bu malzemeler üzerinde X-ışını kırınım deneyleri gerçekleştirildiğinde, numunenin yüksek transparanlığının bir sonucu olarak büyük bir numune yer değiştirmesi meydana gelecektir. Bu vakalarda iletim deneyleri önerilir.

İletim geometrisinde, X-ışını tüpünün odak noktasından çıkan X-ışını ışını, örneğin bir X-ışını ayna – bir olayla ilgili kiriş kremi tarafından dedektöre odaklanır. Folyo numunesi, gelen kirişte kırınım düzlemine dik olarak yerleştirilir. X-ışını Bragg açısı üzerinde kırılır ve 2Theta çemberindeki dedektöre odaklanır.
Transmisyon deneyleri ayrıca cam kapillerlerdeki numuneler üzerinde de yapılabilir. Kapiler numunelerin amacı, havaya maruz kalmamak veya operatörün sağlığı için tehlikeli olan az miktarda tozun doğru ölçümlerini yapmaktır. Numunelerin döndürülmesi, kırınım durumuna daha fazla kristalit getirir ve parçacık istatistiklerinin ölçümler üzerindeki etkisini azaltır.

Konfigürasyon

Yüksek Çözünürlüklü Toz ve Kristalografi

Saf Kα1 radyasyonu, piyasadaki en yüksek çözünürlük, indeksleme ve kompleks karışımlar için;

Konfigürasyon

Ortamdan Bağımsız Difraksiyon

Ortamdan bağımsız kırınım, normalde bir laboratuar ortamında mevcut olanlar dışındaki atmosfer koşullarında gerçekleştirilen X-ışını kırınım deneyleri için kullanılan genel terimdir.

Çevresel olmayan kırınım deneyleri, sıcaklık, basınç veya gaz fazı bileşiminin bir fonksiyonu olarak numunedeki değişiklikler hakkında bilgi verir. Değişen atmosferik koşullar altında örnekler kristalografik faz geçişleri gösterebilir veya gaz fazıyla kimyasal reaksiyonlar gerçekleştirebilirler. X-ışını kırınımı tahribatsızdur ve değişen çevresel koşullar altında kristal yapısındaki yeniden düzenlemeler hakkında kesin bilgi verir.
Ortam koşullarında materyallerin incelenmesinin birkaç nedeni vardır:

Konfigürasyon

  Facebook Sayfamız
  Twitter Sayfamız
  LinkedIn Sayfamız
Sektörler
  • Fuel Cell

  • +90 (216) 577 52 96

      info@ankaanalitik.com.tr

     
    Karaman Çiftlik Yolu
    Kurucular Sitesi Hamza Bey Apt.
    NO:32/A Daire:6 34752
    İçerenköy / Ataşehir / İSTANBUL
    Copyright © 2012-2019 AnkaAnalitik.com.tr - All Rights Reserved
    Powered by BayraktarTasarım