Ataşehir, İstanbul, Türkiye        +90 (216) 577 52 97        info@ankaanalitik.com.tr

Anka Analitik » X-RAY DİFRAKTOMETRE SİSTEMLERİ

EXPLORER XRD CİHAZI

explorer xrd

ÇOK AMAÇLI, YÜKSEK ÇÖZÜNÜRLÜKLÜ THETA/THETA X-RAY DİFRAKTOMETRE 

Esneklik ve Sınırsız Modülerlik

EXPLORER, yüksek çözünürlüklü difraktometre sistemi, 0.00001°‘lik bir açısal hassasiyete ulaşmasını sağlayan, optik kodlayıcılar tarafından kontrol edilen yüksek verimli, doğrudan tahrikli tork motorları (Direct Drive Torque Motors) içermektedir.

EXPLORER X-Işındifraktometresi'nin hizalamayı gerektirmeyen modüler yapısı sayesinde, toz, ince film, düşük (SAXS)ve geniş(WAXS) açı saçılımı, Stress ve Texture analizleri yapılmaktadır.

EXPLORER, analitik ihtiyaçlara geniş bir yelpazede çözümler sunar;

  • Geleneksel X-Işını Toz Kırınımı (XRPD).
  • Reflektometri (XRR).
  • Grazing Incidence X-IşınDifraksiyonu (GIXRD).
  • Yüksek Çözünürlüklü X-Işını Kırınımı (HRXRD).
  • Küçük ve Geniş açı X-Işını kırınımı (SAXS & WAXS).
  • Kalan-Gerilmeler ve Doku Analizi .
  • Ortam-dışı X-Işını kırınımı Analiz
  • Toplam X-Işını Flüoresansı (TXRF)

EXPLORER XRD, esnek ve hizalamayı gerektirmeyen modüler yapısına sahiptir. Müşterinin gereksinimlerine göre değiştirilebilir ve güncelleştirebilir. GNR, tüm analitik ihtiyaçları karşılamak için X-ışını kaynakları, optik, numune tutucuları ve dedektörler gibi çok çeşitli aksesuar seçeneklerine sahiptir.

EXPLORER XRD, uygulama sınırı olmaksızın müşterilerin tüm analiz ihtiyaçlarını karşılar;

    • Rutin kristal faz tanımlama ve miktar tayini ( RIR metodu- Rietveld metodu)
    • Kristalit boyutu / kafes yorgunluğu ve kristalinite hesaplamaları
    • Retained östenit miktarının tayini
    • Polimorf taraması
    • Kristal yapı analizi
    • Residual-stress analizi
    • İnce film analizi
    • Derinlik profili
    • Non-ambient analizleri
    • Faz geçiş analizleri

 

    • Doku (texture) ve tercihli yönelim (preferred orientation) analizleri

 

  • Nanopartikül analizleri

Temel Özellikler

  • Erişilebilirlik, çalışma alanı ve görüş alanı rahat, yüksek radyasyon muhafazası.
  • Çift emniyet devresi
  • Theta/Theta dikay Gonyometre, Direct Torque Motors, Goniometer Raduis = 200 - 300 mm.
  • 3000 W yüksek voltaj Jeneratörü (opsiyonel 4000 W).
  • Uzun ömürlü yüksek X-ışın radyasyon yoğunluğa sahip X-Işın Tüpleri (Cu, Mo, Co, Cr, W, Ag Anot)
  • Dönebilen ve sabit Tüp bloğu.
  • Motorlu ve Sabit Ayarlanabilen modüler optikler
  • P.C Teknoloji'e sahip CeleriX hızlı dedektörü (0D,1D, Opsiyonel:2D) tarama süresini 1000 kata kadar düşürür
  • XRF analizi için SDD Peltier soğutmalı dedektörü.
  • Eulerian Cradle
  • Capillary numune tutucuları.
  • Secondary Collimator (LESS)
  • Johansson, Parabolic mirror, 2 Bounce, 4 bounce monochromators
  • RTSS,TSH, RSS, MSH, Non-Ambient Chamber.

explorer-tech-data

Uygulamalar

X-Işın Toz Difraktometre (XRPD)

 

Faz analizi ve kimliklendirme, analitik numunelerdeki farklı polikristal malzemelerin çalışmasıdır. Bir faz kristal yapısının benzersiz kombinasyonundan kaynaklanan eşsiz toz difraksiyon deseninden ötürü diğer fazlardan ayrılır. Bu analiz, her çeşit kristal halindeki malzeme için geçerlidir ve sadece tanımlama ile sınırlanabilir veya tam kantitatif analizle genişletilebilir.

  • Nitel faz tanımlamalarıxrpd
  • Nicel Analiz (Rietveld Refinement)
  • Yüzde Kristal Derecesi
  • Kristal Boyut Analizi
  • Lattice(Kafes) Gerilme Analizi
  •  

Konfigürasyon

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilir yada sabit Tube Shield
  • Diverjans Optikleri (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen )
  • Numune Tutucu (TRSS,TSH, RSS, MSH, Non-Ambient Chamber, χφzXY SH)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen )
  • CeleriX Hızlı Dedektör (0D,1D, Opsiyonel:2D)

İnce Film (GIXRD)

İnce filmlerin veya çok katmanlıların faz analizinde, katmanlardan gelen sinyal yoğunluğunu arttırmak ve alt katman yansımalarını azaltmak için X-ışını girişi düşük eğimli açılarda ölçümler yapılabilir. Ölçüm sırasında, dedektör 2-teta aralığı boyunca taranırken, giriş açısı sabit kalır. Bu yapılandırmada, paralel ışın kolimatörü (LESS) yansıyan ışın üzerine tutturulmuştur.

  • İnce filmde tozun faz analizi
  • İnce filmın yapısı
  • İnce film Lattice gerilme analizi

GIXRD (Grazing Incidence Diffraction) Konfigürasyogixrdn

  • Cam veya Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilir yada Sabit Tüp Bloğu
  • Diverjans Optik (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen)
  • Yüksekliği Ayarlanır Numune Tutucu (TRSS,TSH, χφzXY SH)
  • Alıcı Optikler (Secondary collimator (LESS))
  • CeleriX Dedektörü (0D, Opsiyonel:2D)

 

İnce Film (GIXRD-XRR)

EXPLORER, ince film tabakası kalınlığı, yoğunluğu, yüzey ve arayüz pürüzlülüğünün karakterizasyonunu tek bir ölçümde gerçekleştirebilir. Filmler tek veya çok tabakalı, yalnızca birkaç atom veya 500 nanometre kalınlığındaysa, analiz hızlı, kolay ve tamamen tahribatsızdur. Knife edge kolimatörü, kristal monokromatörlerin tipik olarak yoğunluk azalması olmaksızın birincil ışının optimum kolimasyonunu sağlar.

  • İnce filmin yapısı.
  • İnce film lattice (kafes) germe analizi.
  • İnce film (tek yâda çok katmanlı) kaplama kalınlık, pürüzlülük ve yoğunluk analizi.

XRR (Reflectometry) Configuration

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü xrr
  • Dönebilen yada sabit Tüp Bloğu
  • Diverjans Optiks (Johansson, Parabolic mirror, 2 Bounce, 4 Bounce monochromators )
  • Yüksekliği Ayarlanır Numune Tutucu (TRSS,TSH, χφzXY SH)
  • Knife Edge eklentisi
  • Alıcı Optikler (Secondary collimator (LESS))
  • CeleriX Dedektörü (0D, Opsiyonel:2D)

Küçük Numune Miktarları XRD (Capillary Technique)

Kapiler tekniği, kapalı ortamda küçük numune miktarlarını veya havaya duyarlı örnekleri incelemek için idealdir. Parabolik ayna ve CeleriX Dedektörü sayesinde EXPLORER difraktometre, çok küçük numune miktarlarında bile, çok kısa sürede yüksek kaliteli kırınım grafikleri üretir. Mikroskop kontrolü altında hizalanan hassas bir goniometre kafası, kılcal ve difraktometre ekseninin deng gelmesini garanti eder.

 Konfigürasyon

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Parabolik Ayna, Mikro kırınım kolimatör)
  • Numune Tutucu (capillary SH)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler, Secondary kolimatör (LESS))
  • CeleriX Detector (0D,1D, Opsiyonel:2D)

SAXS & WAXS

Küçük açılı X-ışını saçılımı (SAXS) tekniği, nano ölçekli malzemelerin yapısal karakterizasyonu için idealdir ve diğerlerinin yanında nanoparçacık ve gözenek boyutu analizi ve özgül yüzey alanı tayini için izin verir.

SAXS, 0.5 ila 50 nm boyut aralığında yapısal ayrıntıları araştırmak için aşağıdaki gibi uygulanır:

  • Askıda nano parçacıkların partikül boyutlandırılması
  • Yaşam bilimi ve biyoteknoloji (proteinler, virüsler, DNA kompleksleri)
  • Polimer filmler ve elyaflar
  • Hacim başına katalizör yüzeyi
  • Mikro emülsiyonlar
  • Sıvı kristaller

Konfigürasyon

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Johansson, Parabolic mirror, 2Bounce, 4bounce monochromators )
  • Numune Tutucu (SAXS SH)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler, Zero-beam stop optics)
  • CeleriX Dedektör (1D, Opsiyonel:2D)

saxswaxs

Texture Analizi 

Texture analizi, bir numuneyi oluşturan kristalitlerin oryantasyon dağılımının belirlendiği bir kırınım tekniğidir.

textur

Çok çeşitli metaller ve seramik sınıfı gibi polikristalin katı malzemelerde, kristalitlerin yönelimi genellikle ideal bir toz örneğinde olduğu gibi rastgele dağılmaz. Çoğu durumda, örnek referans çerçevesine göre kristalitlerin tercih edilen bir yönlendirme mevcuttur. Malzeme biliminde bu texture olarak adlandırılır. Dokunun bilgisi, araştırılan maddenin mekanik, fiziksel veya kimyasal davranışının anlaşılmasında önemli bir faktördür. X ışını kırınım analizinde, texture bir kutup figürleri setinden tespit edilir. Bu kutup rakamları, tek bir (hkl) yansımanın yoğunluk dağılımını, eğilip, oryantasyon küresi üzerinde numuneyi döndürerek kaydederek ölçülür. Böylece, tek bir yansımanın ve dolayısıyla tek bir kafes düzlemi için oryantasyon dağılımı belirlenir. Bağımsız kristal yönelimleri için bir dizi kutup şekli ölçüldüğünde, kristalitlerin yönlendirme dağılım fonksiyonu (ODF) hesaplanabilir.

Texture analizi, malzeme bilimi, jeoloji, arkeoloji ve mineraloji gibi geniş uygulama alanlarında uygulanmaktadır.

Konfigürasyon

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Sabit yada Programlanabilen DS, Parabolik ayna, 2Bounce, 4bounce monochromators )
  • Numune Tutucu (Eulerian Cradle)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler, Secondary collimator (LESS))
  • CeleriX Dedektör (1D, Opsiyonel:2D)

Stress

X-ışını kırınımı, bir malzemenin kristal yapısını, kristal kafes yönelimini ve kafes düzlemlerinin aralığını ölçmek için yaygın olarak kullanılır. Explorer, belirli bir malzeme için özel olarak seçilmiş bir kafes düzlem yansımalarının aralığını ölçmek için tasarlanmıştır. Explorer, bu ölçümleri ferritik çelik, paslanmaz çelik, alüminyum veya magnezyum alaşımları için optimize etmek için seçilen çeşitli X-ışını tüplerini kullanır. Explorer, tabaka düzleminde uygulanan yük altında iken, kafes aralığını başlangıçtaki aralıktan geçerli aralığa kadar izler. Numunelerin, tabakanın normal yönden yük alma yönüne doğru eğilmesi suretiyle, tabaka yüzeyinin tam stress etkisini elde etmek için ölçülebilir ve kullanılabilir.

stress1

Konfigürasyon

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler, Parabolic mirror, 2Bounce, 4bounce monochromators )
  • Numune Tutucu (Eulerian Cradle)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler, Secondary collimator (LESS))
  • CeleriX Dedektör (1D, Opsiyonel:2D)

stress2

Transmisyon XRD

Transmisyon X-ışını kırınım deneylerinde, X ışını ışını örnek tarafından yansıtılmaz, bunun yerine kırınım işlemi gerçekleştiği örnek boyunca ilerlenir. Farmasötik veya polimer endüstrisindeki organik bileşikler gibi hafif atomlardan oluşan malzemeler, X-ışınları için "transparan"tır. Bragg-Brentano geometrisinde bu malzemeler üzerinde X-ışını kırınım deneyleri gerçekleştirildiğinde, numunenin yüksek transparanlığının bir sonucu olarak büyük bir numune yer değiştirmesi meydana gelecektir. Bu vakalarda iletim deneyleri önerilir.

İletim geometrisinde, X-ışını tüpünün odak noktasından çıkan X-ışını ışını, örneğin bir X-ışını ayna - bir olayla ilgili kiriş kremi tarafından dedektöre odaklanır. Folyo numunesi, gelen kirişte kırınım düzlemine dik olarak yerleştirilir. X-ışını Bragg açısı üzerinde kırılır ve 2Theta çemberindeki dedektöre odaklanır.
Transmisyon deneyleri ayrıca cam kapillerlerdeki numuneler üzerinde de yapılabilir. Kapiler numunelerin amacı, havaya maruz kalmamak veya operatörün sağlığı için tehlikeli olan az miktarda tozun doğru ölçümlerini yapmaktır. Numunelerin döndürülmesi, kırınım durumuna daha fazla kristalit getirir ve parçacık istatistiklerinin ölçümler üzerindeki etkisini azaltır.

Konfigürasyon

transmission-xrd

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Parabolic mirror, Micro diffraction collimator),
  • Numune Tutucu (capillary SH, TRSS)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler))
  • CeleriX Dedektör (0D,1D, Opsiyonel:2D)

 

Yüksek Çözünürlüklü Toz ve Kristalografi

Saf Kα1 radyasyonu, piyasadaki en yüksek çözünürlük, indeksleme ve kompleks karışımlar için;

Konfigürasyon

high-resolution-powder

  • Cam yada Seramik X-IşınTüp
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Johansson Monochromator)
  • Numune Tutucu (TRSS,TSH, RSS, MSH)
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler)
  • CeleriX Dedektör (0D,1D, Opsiyonel:2D

Ortamdan Bağımsız Difraksiyon

Ortamdan bağımsız kırınım, normalde bir laboratuar ortamında mevcut olanlar dışındaki atmosfer koşullarında gerçekleştirilen X-ışını kırınım deneyleri için kullanılan genel terimdir.

Çevresel olmayan kırınım deneyleri, sıcaklık, basınç veya gaz fazı bileşiminin bir fonksiyonu olarak numunedeki değişiklikler hakkında bilgi verir. Değişen atmosferik koşullar altında örnekler kristalografik faz geçişleri gösterebilir veya gaz fazıyla kimyasal reaksiyonlar gerçekleştirebilirler. X-ışını kırınımı tahribatsızdur ve değişen çevresel koşullar altında kristal yapısındaki yeniden düzenlemeler hakkında kesin bilgi verir.
Ortam koşullarında materyallerin incelenmesinin birkaç nedeni vardır:

  • İlaç sektörü için, yüksek sıcaklık ve yüksek nemde beklenmedik bir faz geçişi (örneğin nakliye veya saklama sırasında) güçlü bir tıbbı işe yaramaz bir toz haline getirebilir.
  • Gaz fazı ile olan kimyasal reaksiyonlar, reaksiyon kinetikleri hakkında doğrudan bilgi veren yerinde ölçülebilir.

Konfigürasyon

  • Cam yada Seramik X-IşınTüpü non-ambient
  • Dönebilen Tüp Bloğu
  • Diverjans Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler)
  • AntonPaar Non-Ambient Çember  (-190 °C  to 2000 °C sıcaklık kontrolü , nem kontrol çemberi )
  • Alıcı Optikler (Motorize veya Sabit Ayarlanabilen slitler)
  • CeleriX Dedektör (0D,1D, Opsiyonel:2D)
  Facebook Sayfamız
  Twitter Sayfamız
  LinkedIn Sayfamız
Paylaş
Sektörler
logo beyaz

+90 (216) 577 52 96

  info@ankaanalitik.com.tr

 
Karaman Çiftlik Yolu
Kurucular Sitesi Hamza Bey Apt.
NO:32/A Daire:6 34752
İçerenköy / Ataşehir / İSTANBUL
Copyright © 2012-2019 AnkaAnalitik.com.tr - All Rights Reserved