Ataşehir, İstanbul, Türkiye        +90 (216) 577 52 97        info@ankaanalitik.com.tr

Anka Analitik » XRF SPEKTROMETRELERİ

iEDX-150T Kaplama Kalınlığı XRF Spektrometresi

iEDX-150T Kaplama Kalınlığı XRF cihazı, kaplama kalınlığı için özel olarak tasarlanmış bir XRF cihazıdır.


Kaplama kalınlığının ölçülecek numunenin yerleştirildiği motorize/sabit numune tablasına, üstten gelen X-ışınlarıyla ölçüm yapmaktadır. Motorize numune tablası ile otomatik odaklama yapılabilmektedir. Motorize tablaya sahip olmayan seçeneğinde ise, kamera yardımı ile elle odaklama yapılmaktadır.


5 katmana kadar kalınlık ölçümü yapabilen İEDX-150T kaplama kalılığı ölçüm cihazımız, kalınlık ölçümü yaparken içerik analizi de yapabilmektedir. Kaplama kalınlığının yanı sıra RoHS analizleri de aynı cihazda yapılabilmektedir.


Ek olarak farklı detektör opsiyonlarıyla çalışmanın mümkün olduğu cihazla aşağıdaki analizleri yapabilirisiniz. 


•    Uluslararası çevre şartlarına göre; RoHS, WEEE, ELV  analzileri
•    Tehlikeli madde (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Taramaları
•    Kaplama analizleri; otomobil parçaları, Kapasitör gibi Elektronik devre kartıları (PCB)
•    Tek katmanlı, Çok katmanlı, Alaşım kaplama kalınlığı analizleri
•    Kaplama kalınlığını ölçerken aynı anda içerik analizi.


  • X-ışını tüpü:  Mo / Rh / W / Ag (Seçenek), 50kVp, 1mA
  • Ölçüm : Çok katmanlı kaplama kalınlığı ölçümü (5 Katmana kadar) /RoHS Taraması (Seçenek)
  • Detektör:  Si-Pin Diyot (Seçenek: SDD, FSDD)
  • Kolimatör : 0.3 Kolimatör (Seçenek: 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1mm), Kapiler Optik 50um,  Manuel / Otomatik Numune Tablası
  • Element Tespiti: Ti (22) ~ U (92)
  • Numune Tipi: Katı / Sıvı / Toz, Çok Katmanlı
  • Kamera Büyütme :  40 ~ 80 x
  • Güvenlik : 3 noktalı kilit
  • Rapor Tipi: Excel, PDF / çıktı /Özel form
  Facebook Sayfamız
  Twitter Sayfamız
  Youtube Sayfamız
  LinkedIn Sayfamız
Paylaş
Copyright © 2012-2019 AnkaAnalitik.com.tr - All Rights Reserved