Ataşehir, İstanbul, Türkiye        +90 (216) 577 52 97        info@ankaanalitik.com.tr

Anka Analitik » XRF SPEKTROMETRELERİ

iEDX-150uT Kaplama Kalınlığı XRF Spektrometresi

ISP iEDX-150µT

ISP iEDX-150µT Kaplama kalınlık analizleri için özel olarak tasarlanmış bir XRF spektrometre cihazıdır.
Üstten ışımalı olarak çalışan iEDX-150µT motorize bir numune tablası ile çalışmaktadır. Kendine benzeyen iEDX-150T modelinden farklı olarak FSDD detektör ve özel bir kolimatöre sahip olmasıdır.

Bu özelliklerle birlikte odaklanması 15µm kadar inebilmektedir. Bu sayede çok hassas parçalarda ve kısıtlı alanlarda kaplama kalınlığı ölçümlerini rahatça yapabilmektedir. Örneğin ENEPIG baskılı elektronik kartlarda değerli metallerin kaplama kalınlıklarını rahatlıkla ölçebilmektedir.

5 katmana kadar kaplama kalınlığı ölçümü yapan iEDX-150µT cihazımız ile aşağıdaki analizleri yapabilrisiniz:

  • ENEPIG, Pd-Ni Rh vb. Gibi özel kaplama kalınlığı ölçümü
  • Otomobil parçaları, elektronik devre kartları (PCB), konektörler vb. İçin kaplama analizi
  • Tek katmanlı, çift katmanlı, alaşım kaplama analizi
  • Kaplama kalınlığını ölçerken doğru içerik analizi
     

  • X-ışını tüpü:  Mo / Rh / W / Ag (Seçenek), 50kVp, 1mA
  • Detektör : FSDD (Hızlı Silikon Drift Detertör)
  • Kolimatör : Poli kapiler optik (Odak Noktası 15um / 30um) FWHM 
  • Element Tespiti:  Ti (11) - U (92) - Gazdan Arındırma Seçeneği
  • Numune Tipi : Katı / Sıvı / Toz, Çok Katmanlı
  • Kamera Büyütme : 40 ~ 80x
  • Güvenlik : 3 noktalı kilit
  • Rapor Tipi : Excel, PDF, kullanıcıya özel format
  Facebook Sayfamız
  Twitter Sayfamız
  Youtube Sayfamız
  LinkedIn Sayfamız
Paylaş
Copyright © 2012-2019 AnkaAnalitik.com.tr - All Rights Reserved