Anka Analitik » XRF SPEKTROMETRELERİ
iEDX-150WT Kaplama kalınlığı XRF cihazı kaplama kalınlığı ölçümleri için özel olarak tasarlanmış üstten ışımalı bir XRF spektrometre cihazıdır.
Diğer iEDX-150 modellerine göre daha geniş bir motorize numune tablasına sahip iEDX-150WT cihazı ile özellikle geniş boyutlara sahip devre kartlarındaki (PCB) değerli metallerin kaplama kalınlığını ölçümünde ön plana çıkmaktadır. Aynı zamanda 5 katmana kadar olan geniş boyutlara sahip farklı numunelerin kaplama kalınlığı ölçümlerini rahatlıkla analiz edebilmektedir.
Farklı detektör opsiyonlarının mümkün olduğu iEDX-150WT cihazımızla aşağıdaki analizleri yapabilirsiniz.
• Uluslararası çevre şartlarına göre; RoHS, WEEE, ELV analzileri
• Özellikle geniş boyutlardaki devre kartlarının kaplama kalınlığı analizleri.
• Tehlikeli madde (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Taramaları
• Kaplama analizi otomobil parçaları, Kapasitör gibi Elektronik devre kartı (PCB)
• Tek katmanlı, Çok katmanlı, Alaşım kaplamaların analizleri
• Kaplama kalınlığını ölçerken aynı anda içerik analizi.