Ataşehir, İstanbul, Türkiye        +90 (216) 577 52 97        info@ankaanalitik.com.tr

Anka Analitik » XRF SPEKTROMETRELERİ

iEDX-150WT Kaplama Kalınlığı XRF Spektrometresi

iEDX-150WT Kaplama kalınlığı XRF cihazı kaplama kalınlığı ölçümleri için özel olarak tasarlanmış üstten ışımalı bir XRF spektrometre cihazıdır.


Diğer iEDX-150 modellerine göre daha geniş bir motorize numune tablasına sahip iEDX-150WT cihazı ile özellikle geniş boyutlara sahip devre kartlarındaki (PCB) değerli metallerin kaplama kalınlığını ölçümünde ön plana çıkmaktadır. Aynı zamanda 5 katmana kadar olan geniş boyutlara sahip farklı numunelerin kaplama kalınlığı ölçümlerini rahatlıkla analiz edebilmektedir.

 

Farklı detektör opsiyonlarının mümkün olduğu iEDX-150WT cihazımızla aşağıdaki analizleri yapabilirsiniz.

•    Uluslararası çevre şartlarına göre; RoHS, WEEE, ELV  analzileri
•    Özellikle geniş boyutlardaki devre kartlarının kaplama kalınlığı analizleri.
•    Tehlikeli madde (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Taramaları
•    Kaplama analizi otomobil parçaları, Kapasitör gibi Elektronik devre kartı (PCB)
•    Tek katmanlı, Çok katmanlı, Alaşım kaplamaların analizleri
•    Kaplama kalınlığını ölçerken aynı anda içerik analizi.
 


  • X-ışını tüpü:  Mo / Rh / W / Ag (Seçenek), 50kVp, 1mA
  • Detektör :  Si-Pin Diode (Option : SDD, FSDD)
  • Kolimatör : 0.3 Kolimatör (Seçenek: 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 1mm)
                        Manuel / Otomatik Değiştirme
  • Element Tespiti:  Ti (11) - U (92) - Gazdan Arındırma Seçeneği
  • Numune Tipi : Geniş devre kartları, Çok Katmanlı kaplamalar.
  • Kamera Büyütme : 40 ~ 80x
  • Güvenlik : 3 noktalı kilit
  • Rapor Tipi : Excel, PDF, kullanıcıya özel format
  Facebook Sayfamız
  Twitter Sayfamız
  Youtube Sayfamız
  LinkedIn Sayfamız
Paylaş
Copyright © 2012-2019 AnkaAnalitik.com.tr - All Rights Reserved