Anka Analitik » XRF SPEKTROMETRELERİ

iEDX-150WT Kaplama Kalınlığı XRF Spektrometresi

iEDX-150WT Kaplama kalınlığı XRF cihazı kaplama kalınlığı ölçümleri için özel olarak tasarlanmış üstten ışımalı bir XRF spektrometre cihazıdır.

Diğer iEDX-150 modellerine göre daha geniş bir motorize numune tablasına sahip iEDX-150WT cihazı ile özellikle geniş boyutlara sahip devre kartlarındaki (PCB) değerli metallerin kaplama kalınlığını ölçümünde ön plana çıkmaktadır. Aynı zamanda 5 katmana kadar olan geniş boyutlara sahip farklı numunelerin kaplama kalınlığı ölçümlerini rahatlıkla analiz edebilmektedir.

Farklı detektör opsiyonlarının mümkün olduğu iEDX-150WT cihazımızla aşağıdaki analizleri yapabilirsiniz.

•    Uluslararası çevre şartlarına göre; RoHS, WEEE, ELV  analzileri
•    Özellikle geniş boyutlardaki devre kartlarının kaplama kalınlığı analizleri.
•    Tehlikeli madde (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Taramaları
•    Kaplama analizi otomobil parçaları, Kapasitör gibi Elektronik devre kartı (PCB)
•    Tek katmanlı, Çok katmanlı, Alaşım kaplamaların analizleri
•    Kaplama kalınlığını ölçerken aynı anda içerik analizi.