Kadıköy, İstanbul, Türkiye        +90 (216) 577 52 97        info@ankaanalitik.com.tr

Anka Analitik » X-RAY DİFRAKTOMETRE SİSTEMLERİ

TX2000 Total Reflection EDXRF Spektrometre

tx-2000

 

TXRF, EDXRF ile aynı prensipler üzerine kurulmuştur, ancak önemli bir fark vardır. Birincil ışının numuneye 45°'lik bir açıyla çarptığı EDXRF'nin aksine, TXRF birkaç miliradyanlık bir bakış açısı kullanır.

Bu otlatma olayı nedeniyle, birincil ışın tamamen yansıtılır. Numuneyi tamamen yansıtılan bir ışınla aydınlatarak, ışının destekleyici alt tabakadaki absorpsiyonundan büyük ölçüde kaçınılır ve ilgili saçılma büyük ölçüde azaltılır. Bu aynı zamanda arka plan gürültüsünü de önemli ölçüde azalttı.

Numunenin kalınlığının en aza indirilmesiyle arka plan gürültüsünün azaltılmasına ilave bir katkı elde edilir. Numunenin küçük bir damlası (uygun bir çözücü içinde çözülmüş maddeden 5-100 mikrolitre) bir silika taşıyıcı üzerine yerleştirilir.

Çözücünün buharlaşması üzerine birkaç nanometre kalınlığında ince bir film kalır. Pratikte, normal olarak numuneden ve matrisinden kaynaklanan saçılmanın büyük kısmı ortadan kaldırılır. Bunun nedeni, matris etkisinin bir numunenin dakika kalıntıları veya ince katmanları içinde oluşamamasıdır. Yüksek algılama gücünün yanı sıra, dahili standart tarafından mümkün kılınan basitleştirilmiş nicel analiz.

TXRF, EDXRF ile aynı prensipler üzerine kurulmuştur, ancak önemli bir fark vardır. Birincil ışının numuneye 45°'lik bir açıyla çarptığı EDXRF'nin aksine, TXRF birkaç miliradyanlık bir bakış açısı kullanır.

Bu otlatma olayı nedeniyle, birincil ışın tamamen yansıtılır. Numuneyi tamamen yansıtılan bir ışınla aydınlatarak, ışının destekleyici alt tabakadaki absorpsiyonundan büyük ölçüde kaçınılır ve ilgili saçılma büyük ölçüde azaltılır. Bu aynı zamanda arka plan gürültüsünü de önemli ölçüde azalttı.

Numunenin kalınlığının en aza indirilmesiyle arka plan gürültüsünün azaltılmasına ilave bir katkı elde edilir. Numunenin küçük bir damlası (uygun bir çözücü içinde çözülmüş maddeden 5-100 mikrolitre) bir silika taşıyıcı üzerine yerleştirilir.

Çözücünün buharlaşması üzerine birkaç nanometre kalınlığında ince bir film kalır. Pratikte, normal olarak numuneden ve matrisinden kaynaklanan saçılmanın büyük kısmı ortadan kaldırılır. Bunun nedeni, matris etkisinin bir numunenin dakika kalıntıları veya ince katmanları içinde oluşamamasıdır. Yüksek algılama gücünün yanı sıra basitleştirilmiş nicel analiz TXRF'nin başlıca avantajları;

Matris etkisi yok
Tek bir dahili standart, nicel analizleri büyük ölçüde basitleştirir
Herhangi bir numune matrisinden bağımsız kalibrasyon ve miktar tayini
Eşzamanlı çok elemanlı ultra iz analizi
Birkaç farklı örnek türü ve uygulaması
Ölçüm için gereken minimum numune miktarı (5μL)
Sıvı ve katı numuneler için benzersiz mikroanalitik uygulamalar
Sodyumdan plütonyuma kadar tüm elementler için mükemmel tespit limitleri (ppt veya pg)
ppt'den yüzdeye kadar mükemmel dinamik aralık
Numuneyi kimyasal ön işlem olmadan doğrudan analiz etme imkanı
Hafıza etkisi yok
Tahribatsız analiz
Düşük işletme maliyeti, dahili standart sayesinde mümkün olmuştur.

Uygulamalar:

Çevresel Analiz: su, toz, tortular, aerosol
Tıp: biyolojik sıvılarda ve doku örneklerinde toksik elementler
Adli Bilim: son derece küçük numune miktarlarının analizi
Saf kimyasallar: asitler, bazlar, tuzlar, çözücüler, su, ultra saf reaktifler
Yağlar ve gresler: ham petrol, uçucu yağ, akaryakıt
Pigmentler: mürekkep, yağlı boyalar, toz
Yarı İletken Endüstrisi: VPD'ye göre (buhar fazı ayrışması)
Nükleer Endüstri: radyoaktif elementlerin ölçümleri

  Facebook Sayfamız
  Twitter Sayfamız
  Youtube Sayfamız
  LinkedIn Sayfamız
Paylaş
Bize Yazın   
Copyright © 2012-2019 AnkaAnalitik.com.tr - All Rights Reserved